永利皇宫注册网址简称TDT);频域测试仪器为矢量网络分析仪(Vector Network Analyzer

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文章关键词:永利皇宫登录网址,印制板测试

  来源为材料的导体损耗和介质损耗,同时也受到铜箔电阻、铜箔粗糙度、辐射损耗、阻抗不匹配、串扰等因素影响。在供应链上, 覆铜板(CCL)厂家与PCB快件厂的验收指标采用介电常数和介质损耗;而PCB快件厂与终端之间的指标通常采用阻抗和插入损耗,如图1所示。

  针对高速PCB设计和使用,如何快速、有效地测量PCB传输线信号损耗,对于PCB设计参数的设定和仿真调试和生产过程的控制具有重要意义。

  目前业界使用的PCB信号损耗测试方法从使用的仪器进行分类,可分为两大类:基于时域或基于频域。时域测试仪器为时域反射计(Time DomainReflectometry,简称TDR)或时域传输计(TimeDomain Transmission,简称TDT);频域测试仪器为矢量网络分析仪(Vector Network Analyzer,简称VNA)。在IPC-TM650试验规范中,推荐了5种试验方法用于PCB信号损耗的测试:频域法、有效带宽法、根脉冲能量法、短 脉冲传播法、单端TDR差分插入损耗法。

  频域法(Frequency Domain Method)主要使用矢量网络分析仪测量传输线的S参数,直接读取插入损耗值,然后在特定频率范围内(如1 GHz - 5 GHz)用平均插入损耗的拟合斜率来衡量板材合格/不合格。

  SLOT通常被认为是标准的校准方法,校准模型共有12项误差参数,SLOT方式的校准精度是由校准件所确定的,高精度的校准件由测量设备厂家提供,但校准件价格昂贵,而且一般只适用于同轴环境,校准耗时且随着测量端数增加而几何级增长。

  Multi-Line TRL方式主要用于非同轴的校准测量,根据用户所使用的传输线的材料以及测试频率来设计和制作TRL校准件,如图2所示。尽管Multi-Line TRL相比SLOT设计和制造更为简易,但是Multi-Line TRL方式校准耗时同样随着测量端数的增加而成几何级增长

  为了解决校准耗时的问题,测量设备厂家推出了Ecal电子校准方式,Ecal是一种传递标准,校准精度主要由原始校准件所确定,永利皇宫注册网址同时测试 电缆的稳定性、测试夹具装置的重复性和测试频率的内插算法也对测试精度有影响。一般先用电子校准件将参考面校准至测试电缆末端,永利皇宫注册网址然后用去嵌入的方式,补偿夹具的电缆长度。如图3所示。

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